1、預(yù)處理（必要時(shí)）
進(jìn)行預(yù)處理是為了消除試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)開(kāi)始前所受的影響。
2、初始檢測(cè)（必要時(shí)）
在環(huán)境試驗(yàn)之前，試驗(yàn)樣品在規(guī)定的大氣條件下，按有關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行外觀檢查及光電性能檢測(cè)。
3、條件試驗(yàn)
給試驗(yàn)樣品施加規(guī)定的環(huán)境條件，以確定對(duì)樣品的影響。
4、中間檢測(cè)
在條件試驗(yàn)期間要求樣品工作時(shí)，應(yīng)在樣品受試過(guò)程中進(jìn)行檢測(cè)。
5、恢復(fù)（必要時(shí)）
在條件試驗(yàn)之后，最后檢測(cè)之前，應(yīng)按規(guī)定的時(shí)間和條件進(jìn)行恢復(fù)。
6、最后檢測(cè)
恢復(fù)期結(jié)束后，按有關(guān)規(guī)范要求進(jìn)行外觀檢查及光電性能檢測(cè)。
7、失效判據(jù)
由有關(guān)規(guī)范規(guī)定合格與否的標(biāo)準(zhǔn)。

紅外探測(cè)器是將入射的紅外輻射信號(hào)轉(zhuǎn)變成電信號(hào)輸出的器件。紅外輻射是波長(zhǎng)介于可見(jiàn)光與微波之間的電磁波，人眼察覺(jué)不到。要察覺(jué)這種輻射的存在并測(cè)量其強(qiáng)弱，必須把它轉(zhuǎn)變成可以察覺(jué)和測(cè)量的其他物理量。紅外探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)可觀察產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下的適應(yīng)性和耐受性，排除早期失效提高產(chǎn)品的質(zhì)量，為失效分析提供驗(yàn)證數(shù)據(jù)和有效的信息。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種紅外探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為紅外探測(cè)器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種紅外探測(cè)器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰?，為紅外探測(cè)器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫貯存試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

GB/T 15430-1995 紅外探測(cè)器環(huán)境試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動(dòng)試驗(yàn)選擇
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fi：振動(dòng) 混合模式
GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M：低氣壓

氣候環(huán)境試驗(yàn)：低溫貯存試驗(yàn)、低溫工作性能試驗(yàn)、高溫貯存試驗(yàn)、高溫工作性能試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、溫度變化試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)
機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)：正弦振動(dòng)試驗(yàn)、寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)、恒定加速度試驗(yàn)、引出端及整體安裝件強(qiáng)度試驗(yàn)
其他試驗(yàn)：密封性試驗(yàn)、輻照試驗(yàn)、長(zhǎng)霉試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)