高內(nèi)壓試驗條件方法適合于因使用和運輸而暴露在一個最高壓力的嚴酷環(huán)境試驗。
而暴露在低溫高壓或者外高壓的環(huán)境中的儀器必須進行低內(nèi)壓試驗（低內(nèi)壓試驗也用于污染或不斷增加的內(nèi)部濕度下）。
裸潛或在水下的儀器應進行浸沒試驗。

光學和光子學儀器在改變環(huán)境溫度時，其內(nèi)表面可能會出現(xiàn)水膜，這會導致光學性能大大降低或加劇，諸如出現(xiàn)腐蝕和發(fā)霉等影響。
光學和光子學儀器耐壓試驗目的是研究試樣的光學、氣候、機械、化學和電氣（包括靜電）等特性受到環(huán)境氣體高壓、低壓或浸沒影響的變化程度，檢驗其耐壓性能。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的等環(huán)境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
GB/T 12085.8-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
ISO 9022-8：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
DIN ISO 9022-8：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
BS ISO 9022-8：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒
KS B ISO 9022-8：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第8部分：高內(nèi)壓、低內(nèi)壓、浸沒

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）