1、試驗條件
按照詳細規(guī)范規(guī)定，將試樣放置在試驗箱內，經(jīng)受規(guī)定期間內溫度變化。
2、測量
傳輸特性測量、機械性能測量
3、預處理
如有要求，試樣應按照詳細規(guī)范進行預處理。
4、條件調節(jié)
在進行基準測量前應使試驗箱和試樣穩(wěn)定在規(guī)定的標準大氣條件下。按照規(guī)定的嚴酷度調整試驗箱的溫度和濕度。在最長5 min時間內，平均升溫速度應不超過1℃/min。使樣品溫度達到穩(wěn)定，并在規(guī)定期間內維持該溫度和濕度不變。
5、恢復
如果沒有特殊要求，試樣應在標準大氣條件下恢復12 h 以上，但不得超過48 h。詳細規(guī)范可要求在恢復階段進行測量，如有此要求，詳細規(guī)范應規(guī)定什么時候，進行哪些方面的測量。

溫度變化情況下產(chǎn)生的光纜衰減變化通常是由于光纖彎曲和拉伸引起的，是因為光纖的熱膨脹系數(shù)與光纜加強件和護套的熱膨脹系數(shù)的差異而引起的。
光纖產(chǎn)品溫度循環(huán)試驗目的是確定A1類多模光纖和B類單模光纖在實際應用、貯存和（或）運輸過程中可能發(fā)生的溫度變化環(huán)境條件下的適應性能。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光纖的環(huán)境試驗能力，為光纖產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度循環(huán)試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光纖的環(huán)境試驗能力，為光纖產(chǎn)品提供專業(yè)的溫度循環(huán)試驗服務。

GB/T 15972.52 -2008光纖試驗方法規(guī)范第52部分：環(huán)境性能的測量方法和試驗程序 溫度循環(huán)
IEC60793-1-52：2001 光纖 第1-52部分：測量方法和試驗程序-溫度循環(huán)
GB/T 15972.10-2008光纖試驗方法規(guī)范 第10部分：測量方法和試驗程序 總則
GB/T 15972.40-2008光纖試驗方法規(guī)范 第40部分：傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序 衰減
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第22部分 ：試驗方法 試驗N： 溫度變化
GB/T 15972.32-2021 光纖試驗方法規(guī)范 第32部分：機械性能的測量方法和試驗程序 涂覆層可剝性

A1類多模光纖、B類單模光纖等光纖產(chǎn)品。