DZ 0039.1-1992 地質儀器產品基本環(huán)境試驗條件及方法 總則
DZ 0039.14-1992 地質儀器產品基本環(huán)境試驗條件及方法 長霉試驗
GB/T 2423.16-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉
GB/T 12085.11-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第11部分：長霉
GB/T 32065.9-2019 海洋儀器環(huán)境試驗方法 第9部分：長霉試驗
CB 1146.9-1996 艦船設備環(huán)境試驗與工程導則 霉菌
JB/T 5750-2014 氣象儀器防鹽霧、防潮濕、防霉菌 工藝技術要求

長霉試驗就是檢測產品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生長的條件下（即高濕溫暖的環(huán)境中和有無機鹽存在的條件下），設備是否受到霉菌的有害影響。 地質儀器長霉試驗目的在于確定其在有霉菌生長地區(qū)使用、運輸和貯存時，長霉程度對產品及其材料性能的影響，以評價產品對長霉的適應性。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種地質儀器產品的環(huán)境試驗能力，為地質儀器產品提供專業(yè)的長霉試驗服務。

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試驗方法1：經過28 d培養(yǎng)以后，確定：
1、外觀檢查確定霉菌生長程度；
2、長霉引起的物理損傷；
3、長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關規(guī)范中有要求。如果相關規(guī)范要求檢查功能和/或測量電性能，培養(yǎng)期應延長至56 d。
試驗方法2：用營養(yǎng)液對樣品預處理后，進行為期28 d的培養(yǎng)，確定：
1、外觀檢查確定霉菌生長程度；
2、長霉引起的物理損傷；
3、長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關規(guī)范中有要求。
通過使用營養(yǎng)液來模擬污染未長霉的樣品，會降低樣品表面的防霉性能。
如果檢查功能和/或測量電氣性能，宜考慮該影響。 使用營養(yǎng)液就會發(fā)生長霉，如果沒有長霉，宜考慮防霉劑的影響。