檢測流程

1、寄樣。(咨詢工程師提交檢測需求，然后給我們郵寄樣品)

2、初檢樣品。(收到樣品之后，初檢樣品，制定詳細的實驗方案)

3、報價。(初檢之后，根據(jù)實驗復雜程度以及客戶檢測需求進行報價)

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實驗。(嚴格保護客戶隱私)

5、結束實驗。(7-10個工作日完成實驗)

6、郵寄檢測報告，后期服務。

檢測標準

《半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法》 GB/T4377-2018第4.1條

《半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法》 GB/T4377-2018第4.2條

《半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法》 GB/T4377-2018第4.3條

《半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法》 GB/T4377-2018第4.7條

《半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法》 GB/T4377-2018第4.10條

《半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法》 GB/T4377-2018第4.12條

檢測項目

電壓調(diào)整率，電流調(diào)整率，紋波抑制比，耗散電流，基準電壓，最小輸入輸出電壓差

檢測周期：7-15個工作日，試驗可加急